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GB/T4589.1—2006 半导体器件 第10 部分:分立器件和集成电路总规范(IEC60747-10:1991,IDT)
GB/T17573—1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)
GB/T18910.5—2008 液晶和固态显示器件 第5 部分:环境、耐久性和机械试验方法(IEC61747-5:1998,IDT)
GB/T18910.11—2012 液晶显示器件 第1-1部分:术语和符号
GB/T18910.61—2012 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数IEC60068(所有部分) 环境试验(Environmentaltesting)
IEC60410:1973 计数检查抽样方案和程序(Samplingplansandproceduresforinspectionbyattributes)
IEC60747(所有部分) 半导体器件 分立器件(Semiconductordevices—Discretedevices)
IEC60748(所有部分) 半导体器件 集成电路(Semiconductordevices—Integratedcircuits)
IEC60749:1996 半导体器件 机械和气候试验方法(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods)
QC001002:1986 IECQ 电子元器件质量评定体系的程序规则(RulesofProcedureoftheIEC
QualityAssessmentSystemforElectronicComponents(IECQ))
ISO1101:1983 技术制图 几何公差 形状、位置和偏差公差 总则、定义、符号和图样表示法
(Technicaldrawings—Geometricaltolerancing—Tolerancingofform,orientation,locationandrunout—
Generalities,definitions,symbols,indicationsondrawings)
ISO2859(所有部分) 计数检查抽样程序(Samplingproceduresforinspectionbyattributes)