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GB/T191 包装储运图示标志(GB/T191—2008,ISO780:1997,MOD)
GB/T2421.1 电工电子产品环境试验 概述和指南(GB/T2421.1—2008,IEC60068-1:1988,IDT)
GB/T2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)
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GB/T2423.3 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
(GB/T2423.3—2006,IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.5 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Ea 和导则:冲击
(GB/T2423.5—1995,idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Eb 和导则:碰撞
(GB/T2423.6—1995,idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.10 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(GB/T2423.10—2008,IEC60068-2-6:1995,IDT)
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
(GB/T2828.1—2003,ISO2859-1:1999,IDT)
GB/T4798.2 电工电子产品应用环境条件 第2部分:运输(GB/T4798.2—2008,IEC60721-3-2:1997,MOD)
GB/T4857.2 包装 运输包装件基本试验 第2部分:温湿度调节处理(GB/T4857.2—2005,ISO2233:2000,MOD)
GB/T4857.5 包装 运输包装件 跌落试验方法(GB/T4857.5—1992,eqvISO2248:1985)
GB4943 信息技术设备的安全(GB4943—2001,eqvIEC60950:1999)
GB/T5080.7 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案(GB/T5080.7—1986,idtIEC60605-7:1978)
GB/T5271.14 信息技术 词汇 第14部分:可靠性、可维护性与可用性(GB/T5271.14—2008,ISO/IEC2382-14:1997,IDT)
GB/T6107 使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的接口