前言Ⅲ
引言Ⅳ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 符号和缩略语5
5 主要技术要求7
5.1 基本性能7
5.2 技术指标8
6 试验要求8
6.1 试验仪器8
6.2 预热8
6.3 试验条件9
6.4 附加误差的试验9
7 试验方法9
7.1 最小和最大可测信号脉冲幅度9
7.2 道宽(变换系数) 11
7.3 零点13
7.4 积分非线性14
7.5 微分非线性15
7.6 道轮廓的非矩形系数(选测) 17
7.7 死时间18
7.8 最高可测脉冲频率19
7.9 死时间计数损失的校正误差(选测) 20
7.10 系统通过能力(选测) 20
7.11 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率的变化21
附录A (资料性附录) 多道分析器的性能参数和技术指标---多道分析器选择指南28
附录B (资料性附录) 峰位(模态道)的计算30
附录C (资料性附录) 测量局部微分非线性的补充方法31
附录D (资料性附录) _崥羅Ч__t微分非线性的快速检测法32
附录E (资料性附录) 平均死时间辅助试验方法33
附录F (规范性附录) 计数率变化引起的道址相对漂移34
附录G (资料性附录) 本部分与IEC61342的关系36
图1 测量多道分析器的最小可测脉冲幅度和最大可测脉冲幅度的方框图22
图2 测量多道分析器的道宽、零点和积分非线性的方框图22
图3 零点、偏置和幅度拟合直线23
图4 测量局部微分非线性的滑移脉冲幅度随时间变化图23
图5 多道分析器微分非线性试验设备框图24
图6 用于确定微分非线性的谱形状24
图7 测量积分非线性时的误差函数犈(犿) 25
图8 测量多道分析器微分非线性的闪烁计数法25
图9 测量死时间的框图26
图10 测量最高可测脉冲频率的框图26
图11 试验死时间校正误差的框图27
图12 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率变化的试验框图27
表1 多道分析器的基本性能7
表A.1 性能参数和技术指标28
